在交流耐壓試驗和其他的絕緣試驗中，規(guī)定測量試驗電壓峰值的主要原因有： 

1、波形畸變。近幾年來，用電單位投入了許多的非線性負(fù)荷，增大了諧波電流分量，使地區(qū)電網(wǎng)電壓波形產(chǎn)生畸變的問題愈來愈嚴(yán)重。此外，還進(jìn)一步發(fā)現(xiàn)高壓試驗變壓器等設(shè)備，由于結(jié)構(gòu)和設(shè)計問題，也引起高壓試驗電壓波形發(fā)生畸變。例如交流高壓試驗變壓器鐵芯飽和，使激磁電流出現(xiàn)明顯的3次諧波，試驗電壓出現(xiàn)尖頂波，特別是近年來國內(nèi)流行體積小，體重輕的所謂輕型變壓器，鐵興用得小，磁密選得高，使輸出電壓波形畸變更嚴(yán)重；又如某些阻抗較大的移圈調(diào)壓器和部分磁路可能出現(xiàn)飽和的感應(yīng)調(diào)壓器，也使輸出電壓波形發(fā)生畸變。試驗電壓波形畸變對試驗結(jié)果帶來明顯誤差和問題，引起人們的關(guān)注。為了保證試驗結(jié)果正確，對高壓交流試驗電壓的測量，應(yīng)按國家標(biāo)準(zhǔn)GB311.3-83<<高電壓試驗技術(shù)>>和電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL474.1~6-92《現(xiàn)場絕緣試驗實施導(dǎo)則》的規(guī)定，測量其峰值。 

2、電力設(shè)備絕緣的擊穿或閃絡(luò)、放電取決于交流試驗電壓峰值。在交流耐壓試驗和其他絕緣試驗時，被試電力設(shè)備被擊穿或產(chǎn)生閃絡(luò)、放電，通常主要取決于交流試驗電壓的峰值。這是由于交流電壓波形在峰值時，絕緣中的瞬時電場強(qiáng)度到達(dá)最大值，若絕緣不佳，一般都在此時發(fā)生擊穿或閃絡(luò)、放電。這個現(xiàn)象已為長期的實踐和理論研究所證實，而且對內(nèi)絕緣擊穿（大多數(shù)為由嚴(yán)重的局部放電發(fā)展為擊穿）和外絕緣的閃絡(luò)、放電都是如此。交流高電壓試驗常遇到試驗電壓波形畸變的情況，因此形成了交流高電壓試驗電壓值應(yīng)以峰值為基準(zhǔn)的理論基礎(chǔ)。

 基于上述原因，在GB311.3-83中規(guī)定，試驗電壓值是指峰值除以根號2.試驗電壓的波形應(yīng)該接近正弦，兩個半波*一樣，且峰值和方均根值（有效值）之比應(yīng)在根號2±0.07的范圍內(nèi)。顯然，它是以測量交流電壓的峰值作為基礎(chǔ)的，國際標(biāo)準(zhǔn)IEC60-2-73和美、德、英、日及原蘇聯(lián)等國的標(biāo)準(zhǔn)均作內(nèi)容基本相同的規(guī)定